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商品の詳細:
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| 材料: | メタル | サイズ: | 1U |
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| ビットレート: | 24.529Gbps | チャンネル数: | 4 |
| PRBS: | 27-1, 29-1, 211-1, 215-1, 223-1, 231-1,258-1 | PPG: | ユーザが定義したパターン,および 8, 16, 32, 64ビット定義可能 |
| 通信ポート: | USB | ||
| ハイライト: | ROSA装置のための調節可能なエラーメーター,Tunable Error Meter For ROSA Devices |
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100G TOSA/ROSAデバイスのための4チャネル24.5〜29Gb/S調節可能なエラーメーター
4チャネル 24.5~29Gb/s 調節可能なビットエラーテストは,高精度で費用対効果の高いテスト機器の一種であり,主に光通信エラーテストの分野で使用されています.
製品概要
調節可能な4チャネル24,529Gb/sのエラーメーターは,内部参照時計,グラフィック信号発生器,クロック復元回路,エラー分析の機能を統合した試験機器である.4チャネル並行テストをサポートします,各チャネル速度は最大24.529Gb/sで,様々な高速通信機器の試験要件に対応する.
製品特性
高精度・高性能:エラーテスターは,高精度エラーテストを提供し,試験結果の正確性と信頼性を保証します.
多チャネル並行テスト: 4チャネル並行テストをサポートし,テスト効率を改善し,特に複数のデバイスを同時にテストする必要性があります.
調節可能性: 異なる速度のデバイスのテストニーズを満たすために,速度範囲は24.5Gb/sから29Gb/sまで調節できます.
統合設計: 複数の試験機能が1つに統合され,機器の大きさと複雑さを削減し,使いやすさを向上させる.
豊富なテスト機能: 基本的なエラーテストに加えて,アイマップテスト,トランスミッションシステムビットレート,特徴テストもサポートします.
操作が簡単:通常はユーザーフレンドリーなインターフェースとシンプルな操作流程を有し,操作者が迅速に開始し,テストタスクを効率的に完了することができます.
仕様
| 絶対最大格付け | シンボル | ミン | タイプする | マックス | ユニット | 注記 |
| 貯蔵温度 | ツ | -20歳 | ほら | 70 | °C | |
| AC電圧範囲 | VAC | 90 | ほら | 246 | VAC | |
| AC電圧周波数範囲 | VFREQ | 47 | ほら | 63 | Hz | |
| データ RF 電圧入力 | ヴィンデータ | -0だった3 | ほら | 1.2 | V | |
| 時計 電圧 入力 | ヴィン・クリック | 0 | ほら | 1.2 | V | |
| USBピン電圧 | ビンUSB | -0だった3 | ほら | 5.5 | V | |
| RFとクロック ESD HBM | RFesdH | -1000 | ほら | 1000 | V | |
| RF,クロック,USBラッチアップ | Vl | -100ドル | ほら | 100 | mA | |
| USB ESD HBM | USBesdH | -2000年 | ほら | 2000 | V | |
| USB ESD CDM | USBesdC | -500ドル | ほら | 500 | V | |
| 電気特性 | シンボル | ミン | タイプする | マックス | ユニット | 注記 |
| ケース温度 | Tc | 5 | ほら | 45 | °C | |
| AC電流 | Icc | 0.75 | 200 | ほら | mA | |
| バウドレート (NRZ形式) | BR | 12.25/24.5 | 14.5/29 | Gbit/s | ||
| バウドレートセットポイントの精度 | BRa | -10 | ほら | 10 | PPM | (注1) |
| バウドレート (PPM) オフセット | BRo | -999 -999 -999 -999 | ほら | 999 | PPM | 1ppm ステップサイズ |
| 初期化時のパワー | トン | ほら | ほら | 15 | 秒数 | |
| 目 の 段階 | EMp | ほら | ほら | 128 | ステップ | .16 pS/ユニット |
| 目 の 幅 の ステップ | EMv | ほら | ほら | 64 | ステップ | 単位あたり8mV |
| 注1:老化,温度,電圧 | ||||||
適用範囲
調節可能な4.5~29Gb/sの4チャネルエラーメーターは,以下の側面を含むが,これらに限定されないように,光通信の分野で幅広いアプリケーションを持っています.
オプティカルトランシーバーモジュール試験:CFP2,CFP4,QSFP28,SFP+,XFPなどのモジュールのエラー試験.
光電気部品と機器の試験:TOSA,ROSA,レーザーおよび他の光電気部品と機器のエラー試験など.
高速集積回路と回路板試験:Gbpsクラスの集積回路 (IC) と回路板 (PCB) のエラー性能を試験するために使用される.
シリアルバスと高速バックプレーンの設計試験: シリアルバスと高速バックプレーンの設計プロセス中にシステムの信号完全性とビットエラー率を検証するために使用される.
オプティカル・トランスミッション・ネットワークの設置試験と故障排除:オプティカルトランスミッションネットワークの設置と稼働中にシステムのエラー性能をテストし,故障のトラブルシューティングに使用される.
コンタクトパーソン: Jack Zhou
電話番号: 13602867834
ファックス: 86-020-82575318
